Suministro e instalación de un microscopio electrónico de barrido con FIB (Focused Ion Beam), sistema de análisis por rayos X y sistema de ablación masiva de material mediante láser pulsado, destinado al Instituto de Microelectrónica de Sevilla de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

Contract type	Supplies
CPV	38511100
Deadline	14 July 2025

Full tender details, bidder list, market context and related contracts available below. Data sourced from TED — the Official Journal of the EU.