Equipamiento para sistema de focalización de haces de iones (FIB) integrado en microscopio SEM-FEG con rutinas de preparación de muestras TEM, tomografía, estereografía, catadoluminiscencia, medidas in-situ y reconstrucción/tomografía y prototipado 3D FEDBID con destino al Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (Imeymat) de la Universidad de Cádiz. PAIDI. ID – 5764

Contract type	Supplies
CPV	38511100
Awarded to	Zeppelin Metrology

Full tender details, bidder list, market context and related contracts available below. Data sourced from TED — the Official Journal of the EU.