🇮🇹 Italy · EU Public Tender
SISTEMI PER LA CARATTERIZZAZIONE DELLA QUALITÀ CRISTALLOGRAFICA E LA DIFETTOSITÀ DI SEMICONDUTTORI SUDDIVISI IN DUE LOTTI_LOTTO 1 CIG B2EB2EE6C8 DIFFRATTOMETRO A RAGGI X_LOTTO 2 CIG B2EB2EF79B SPETTROMETRO
🏛️ Consiglio Nazionale delle Ricerche - Istituto per la Microelettronica e Microsistemi · 📍 Catania
964 K€
Estimated value
—
Deadline
| Contract type | Supplies |
| CPV | 38433000 |
| Awarded to | CRISEL INSTRUMNTS SRL |
Full tender details, bidder list, market context and related contracts available below.
Data sourced from TED — the Official Journal of the EU.