Systém skenovacej elektrónovej mikroskopie (SEM) vybavený FIB, 3D-EBSD, 3D-EDS detektormi a Spektrometrom na súčasné meranie spektier pre rôzne energie, za účelom analýzy ľahkých kovových prvkov vrátane lítia (Li)

Contract type	Supplies
CPV	38511100
Deadline	15 March 2026
Awarded to	JEOL (Europe) SAS

Full tender details, bidder list, market context and related contracts available below. Data sourced from TED — the Official Journal of the EU.